技术报告：点扫描成像技术在生物和天文领域中的应用

2025-08-04

作为最早的图像传感器，CCD自面世以来一直被广泛地使用在各类成像设备中，尤其是在科研级成像设备中。近年来，随着CMOS制作工艺的提高，其性能已不亚于CCD。sCMOS(Scientific CMOS)同时拥有大靶面、低噪声、高动态、高帧率等优点，是面阵成像的最佳选择之一。面阵成像是一次性获得完整图像，与之相对的是点扫描成像，被运用在一些特殊的成像需求中。本次报告将详细介绍sCMOS的原理、特点和使用，以及点扫描成像技术在显微成像和天文成像领域中的应用。

时间:2025年08月04日 15:00-17:00；地点：中国科学院地质与地球物理研究所地6楼520室。